檢索結果:共2筆資料 檢索策略: "電子工程系".dept (精準) and ckeyword.raw="場效電晶體"
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隨者電子產業的進步,傳統型金氧半電晶體在微型化之後面臨一些可靠度問題,例如短通道效應、熱載子效應、閘極引起位障降低效應。穿隧型場效電晶體在高度微型化可以提供較小的短通道效應、小的熱載子效應以及降低閘…
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當傳統金氧半元件微縮化至深次微米製程,新的可靠性問題產生了。這其中包含了短通道效應、熱載子效應、閘極引起汲極漏電流。穿透式場效電晶體在高度微縮化時可以提供較小的短通道效應、小的熱載子效應、小的閘極引…